SRM 640系列背景

 SRM 640系列是由美國國家標準與技術(shù)研究院（NIST）開發(fā)的硅粉標準品，專用于粉末衍射儀的校準，主要針對衍射線位置和線形的標準化。該系列通過超高純度硅粉的制備和嚴格認證，確保其在X射線衍射分析中的可靠性和溯源性。 

標準參考材料SRM 640c是早期版本，但當前NIST提供的更新版本為SRM 640f和SRM 640g，兩者在材料特性和用途上基本一致。 

 SRM 640f與SRM 640g的核心信息 

材料特性成分與制備：由超高純度本征硅晶錠經(jīng)粉碎、噴射研磨至中值粒徑4.1 μm，并在1000°C氬氣環(huán)境下退火2小時，最終在氬氣中裝瓶以防止受潮。 

 認證值：22.5°C下的晶格參數(shù)為 0.5431144 nm ± 0.000008 nm，計量溯源性為國際單位制（SI）。 

用途 

標準參考材料SRM 640c校準粉末衍射儀的2θ角線位置和輪廓寬度，確保設(shè)備性能和數(shù)據(jù)準確性。適用于材料科學、化工、電子等領(lǐng)域的衍射分析。

儲存與有效期

 儲存：標準參考材料SRM 640c需保持原裝氬氣密封，未使用部分應(yīng)嚴格防潮。

 有效期：認證值在正確儲存條件下無限期有效，但若污染或損壞則失效。

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